Investigadores han desarrollado un nuevo método para la detección de defectos en arreglos de protuberancias de indio, utilizando microscopía óptica multimodal. El enfoque se basa en la diferencia del campo de deformación de Demons a múltiples escalas.
Este método, publicado en Wiley Online Library, busca mejorar la inspección de calidad en la fabricación de estos arreglos, cruciales en la industria de la microelectrónica. La microscopía óptica multimodal permite obtener información detallada de la superficie, mientras que el algoritmo de Demons, aplicado a múltiples escalas, facilita la identificación de incluso las deformaciones más sutiles que podrían indicar un defecto.
La técnica podría contribuir a la producción de componentes electrónicos más fiables y eficientes, al permitir una detección temprana y precisa de fallos en la fabricación.
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